J200飞秒激光剥蚀进样系统

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J200飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破，为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质，ICP源的颗粒能完全被消解，产生稳健、恒定的瞬时ICP-MS信号。用户可完全依靠J200系统输送高质量的样品颗粒到ICP-MS 系统，在LA-ICP-MS测量过程中引起元素或同位素分馏的两大主要过程：（1）非化学计量物质剥蚀的热过程；（2）大样品颗粒在ICP源不完全消解。

技术参数：

1、设备重量：600 lbs [272Kg](仅LA主机)；600-650lbs[272-295Kg](Tandem+LIBS检测器)；

2、LIBS检测器：Czerny Turner光谱仪 / ICCD检测器(仅适用于Tandem系统)；

3、自动X-Y轴：100mm X 100mm行程范围，分辨率0.2微米；

4、激光光闸：自动光闸保证激光能量稳定。

产品优势：

1、与测量样品相匹配的标准物质；

2、J200LA-fs确保元素和同位素不分解的情况下

3、剥蚀的颗粒能真实地代表样品的化学特性；

4、J200LA-fs系列剥蚀样品精度高，且没有热效应。

J200飞秒激光剥蚀进样系统有30多年激光剥蚀技术的基础研究经验和LA-ICP-MS方法的研究背景，易浏览不同的样品区域，设立灵活的采样方式，用户在样品图像上可任意编辑激光采样模式，包括光栅线状、曲线、随机点、任意尺寸网格或预先编制的模式，具备智能输送和补充气控制功能，使每种气体按预定的方式达到设定值，同步开关确保稳定的ICP-MS等离子体状态，防止等离子体火焰喷出。预设阀配置可选择氩气或氦气作为载气或缓冲气。

J200飞秒激光剥蚀进样系统是LA-ICP-MS技术向高精度、高准确度、高灵敏度水平发展的重大突破，为了准确定量的分析元素和同位素，需要高精度的、与测量样品相匹配的标准物质，ICP源的颗粒能完全被消解