泉科瑞达 薄膜测厚仪 CHY-02

产品特征

CHY-02测厚仪是一款专业用于机械式厚度测量的高精密仪器，采用高精度位移传感器，采用稳固性结构设计及高精测控控制技术，实现了接触式厚度测量的稳定性、重复性。

1、7寸大触控屏，专业测控软件支持

2、采用国际品牌高精度位移传感器，实现0.1um分辨率

3、具有超高重复性与测试精度，高精度高重复性

4、零点、量块同一点多次连续测试具有业内领先的重复性

5、具有手动、自动测试功能

6、可单点、多点（5点）校验，使仪器有不同测量区间均表现出超高精度

7、支持多级用户权限管理，测试数据历史记录可查询

8、多种数值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断

试验原理

本品不同于超声波，电涡流等原理，采用机械接触式厚度测量方式进行厚度的高精度测量，符合标准要求；先对将厚度测量头复位后置零（测厚头与测厚仪测试台接触归零），启动试验，测厚头达到最高位，将平整试样置于测厚仪测试平台上，测量头下落后接触试样，对试样施压标准规定的压力后通过位移传感器记录材料厚度。