详细介绍
该仪器适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
主要性能指标
波长范围及峰值波长：UV－340探头：λ：(315～370)nm；λP＝340nm
辐照度测量范围：(0.1～199.9×103)μW/cm2
紫外带外区杂光：UV340：小于0.05％
余弦特性：符合国家二级光照度标准
示值相对误差：±10％
响应时间：1秒
使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量：180mm×80mm×36mm；0.2kg
电源：9V积层电池（6F22型）一只
