XRF镀层测厚仪X-Strata920_测厚仪_物性测定_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	日立
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

微束XRF涂层厚度和材料分析仪，方便快速进行质量控制和验证测试，在几秒内即可获得准确的数据。

基于X-光荧光的涂层厚度和材料分析是业内广泛接受认可的分析方法，提供易于使用、快速和无损的分析，几乎不需要样本制备，能够分析元素周期表上从13Al 到92U的固体或液体样品。

精确的镀层和珠宝分析

X-Strata920是一款高精度台式XRF分析仪，具有多种选择，可容纳多种类型的样品。该分析仪非常适合测量各种基材上的镀层，是必须确定产品质量的电子产品、连接器、装饰品和珠宝分析的理想选择。

X-Strata920的优势在于其多功能性。您可以从多种配置中进行选择，包括五种基本配置以适应不同尺寸的样品、六种准直器尺寸用于优化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快测量过程同时保持准确性的附加自动化功能。X-Strata920易于使用，软件直观，可由非专业人员操作，并可轻松融入您的生产或质量保证部门。

产品亮点X-Strata920具有多种选项和多功能性，可容纳各种样品，每次都能提供精确的分析。

适应性设计，可对各种产品进行可靠分析

自动对焦和可选的程控台提高了准确性和速度

直观的SmartLink软件使测量和导出数据变得容易

多准直器设计为每个样品提供高准确性

选择适合应用的比例计数器或硅漂移检测器(SDD)

符合行业规范，例如IPC-4552A、ISO3497、ASTMB568和DIN50987

简单的样品加载和快速分析可在几秒钟内提供结果

强大的光学分析单层和多层镀层，包括合金层

对比型号

X-Strata920（正比计数器）

mportant;"width="286">

X-Strata920（硅漂移探测器）

元素范围

Ti–U

mportant;">Ai–U

样品舱设计开槽式mportant;"width="286">开槽式

XY轴样品台

固定台、加深台、自动台

mportant;"width="286">固定台、加深台、自动台

样品尺寸上限250(宽)x200(深)x50(高)mmmportant;"width="286">250(宽)x200(深)x50(高)mm

准直器数上限

6mportant;"width="286">6

滤光片数上限

3(secondary)mportant;"width="286">n/a

准直器尺寸下限

0.01x0.25mm(0.5x10mil)

mportant;"width="286">0.01x0.25mm(0.5x10mil)

样品台行程上限

178x178mm

mportant;"width="286">178x178mm

SmartLink软件

有mportant;"width="286">有

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