探针，AFM探针，原子力显微镜探针，耗材_光学仪器_仪器设备_供应

原子力显微镜探针(AFM探针)，是原子力显微镜（AFM）设备非常重要的配件耗材之一。我司提供的布鲁克AFM探针具有多种款式和型号，能够满足多种应用领域中的原子力显微镜（AFM）解决方案。

在实验中，用户所得到的数据通常取决于探针的质量和探针的重复性。布鲁克的探针具有严格的纳米加工控制和质量测试，具备AFM领域的专业背景，不仅能够为当前的应用提供测试结果，同时也能为将来的研究提供参考数据。

目前，布鲁克

原子力显微镜（AFM）已被广泛应用于生命科学、材料科学、半导体、电化学等领域的纳米技术研发，应用广泛，因此所配套的探针种类也在不断增加，为了帮助客户能够便捷的选择出适合测量需求的探针型号，可通过以下的探针选型指南来更快速的找到更适合的探针类型。

原子力显微镜探针(AFM探针)常用型号一览

材料样品

大气环境

液下环境

智能成像

高分辨

SCANASYST-AIR

SCANASYST-AIR-HPI

SCANASYST-FLUID+

SNL-10

一般成像

DNP-10

SCANASYST-FLUID

DNP-10

轻敲模式

较软样品/相位成像

OLTESPA-R3,RFESPA-75

SNL-10,DNP-10

一般样品

TESPA-V2,RTESPA-300

SNL-10,DNP-10

快速扫描

FASTSCAN-A

FASTSCAN-B，FASTSCAN-C

接触模式

一般成像

SNL-10,DNP-10,MLCT

摩擦力显微镜

ORC8-10,SNL-10，DNP-10

电磁学测量

静电力显微镜

MESP-RC-V2,MESP-V2,SCM-PIT-V2

磁力显微镜

MESP-RC-V2,MESP-V2

表面电势测量

PFQNE-AL,MESP-RC-V2,MESP-V2,OSCM-PT-R3,SCM-PIT-V2

导电原子力／隧穿原子力

MESP-RC-V2,MESP-V2,SCM-PtSi,OSCM-PT-R3,SCM-PIC-V2,SCM-PIT-V2

峰值力隧穿原子力显微镜

PFTUNA,MESP-RC-V2,MESP-V2,SCM-PtSi,SCM-PIT-V2

扫描电容显微镜

OSCM-PT-R3,SCM-PIC-V2,SCM-PIT-V2

扫描扩散电阻显微镜

SSRM-DIA,DDESP-V2,DDESP-FM-V2,OSCM-PT-R3, SCM-PtSi,SCM-PIT-V2

压电力响应显微镜

DDESP-V2,DDESP-FM-V2,MESP-RC-V2,MESP-V2,OSCM-PT-R3,SCM-PtSi,SCM-PIT-V2

生物样品

生物小分子

一般成像

MLCT,DNP,DNP-S

高分辨

SNL-10,Fastscan-D,AC40

细胞

一般成像

MLCT,DNP-10

力学测量

MLCT,DNP-10,ScanAsyst-Fluid,PFQNM-LC

探针修饰

修饰小球

NP-O10

修饰分子

NPG-10

力学测量

杨氏模量(E)

探针类型

弹性常数(K)

1Mpa

SNL-10;SCANASYST-AIR

0.5N/m

1Mpa

SAA-HPl-30

0.25N/m

5Mpa

AD-2.8-AS;AD-2.8-SS

2.8N/m

RTESPA-150

5NIm

10Mpa

RTESPA-150-30

5NIm

200Mpa

AD-40-AS;AD-40-SS

40N/m

RTESPA-300

40N/m

100Mpa

RTESPA-300-30

40N/m

1Gpa

RTESPA-525;RTESPA-525-30

200N/m

10Gpa

DNISP-HS;PDNISP-HS

450N/m

用于高分辨成像的超尖探针

DimensionIcon

大气环境

ScanAsyst-Air-HPI,PeakForce-HiRs-SSB

液下环境

PeakForce-HiRs-F-B

DimensionFastscan

大气环境

PeakForce-HiRs-SSB*,PeakForce-HiRs-F-A

液下环境

Fastscan-D-SS *setpointneedtobearound100pN

探针选型指南

一、AFM探针简介

每个探针都由三部分组成：tip（针尖），cantilever（悬臂梁），substrate（基片）

大部分材料都是硅或者氮化硅。

一般悬臂梁的形状有：矩形和三角形、Special。

1）悬臂的主要参数有：springconstant（弹性系数）、resonancefrequency（共振频率）、悬臂长度（宽度厚度等）、悬臂形状、悬臂的镀层、悬臂材料、悬臂梁的数目等；
2）针尖tip的主要参数有：tipradius、tipgeometry、tipcoating、tipheight等；
3）不同的探针具体有不同的用途，所以我们也从适合的样品（sample）类型、适合的AFM机型（包括非Bruker品牌的afm机型）、适合的工作模式（workmode）、适合的应用（application）对探针做了分类，可以在探针左边的帅选栏里进行相应的筛选和查询。

二、如何挑选AFM探针：

1）确认待测物
   如：高分子、无机物、细胞........
2）确认AFM应用模式
   形貌、电性、液下成像、力曲线............
3）确认扫描的精度
   挑选合适探针针尖1nm、2nm、7nm、10nm........?
4）确认共振频率和弹性系数
   取决于扫描速度、工作模式、待测物软硬度等信息

注：目前网站中所展示的是较为常见的探针系列及型号，除此以外的一些bruker（布鲁克）探针型号，如：PFQNM-LC、PEAKFORCESECM等，未在网站上进行展示，如需提供报价或者具体参数，请与我公司联系，联系方式可见上方“联系我们”。

三、以下是针对大部分探针系列的简要说明：

关于不同系列探针后面的A，AW，W；-HM，-HR，-LM等标识的说明，具体如下：

1）AD系列探针，金刚石镀层导电硅基探针，一盒5根。根据频率和曲率半径的不同，有不同的型号。

2）CDP和CDR系列、EBD-CD探针，主要用于insight（全自动原子力显微镜）机型上。

3）CLFC系列探针，tipless
•CLFC-NOBO和CLFC-NOMB探针，用来做calibration，用其自身已知的悬臂Kref（弹性系数）值来校准未知探针悬臂的K值。
•要校准的悬臂的弹性系数一般应该在0.3Kref

4）CONTV系列的探针
•-A表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层
•-AW表示一个wafer，大概有300-400根针，且悬臂背面有Al镀层
•-W表示一个wafer，但悬臂背面无镀层（nocoating)
•只写了CONTV，表示一盒10根针，但悬臂背面无镀层（nocoating)
•-PT表示悬臂前面（含tip）有Ptlr镀层，导电

5）DDESP系列和DDLTESP-V2、DDRFESP40探针，导电，有导电金刚石涂层tip

6）DNISP系列和PDNISP、MDNISP-HS、NICT-MAP探针，有手工制作的天然金刚石纳米压痕tip，都可以做纳米压痕。

7）DNP系列探针，每个型号悬臂背面都有Gold镀层
•-10表示一盒10根针且曲率半径的标称值为20nm
•DNP后面啥数字没有，表示一盒一个wafer，大概有300-400根针，且曲率半径的标称值为20nm
•-S10表示一盒10根针且曲率半径的标称值为10nm
•DNP-S后面啥数字没有，表示一盒一个wafer，大概有300-400根针，且且曲率半径的标称值为10nm

8）ESP系列的探针
•ESP后面带A，表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层
•ESP后面带AW表示一个wafer，大概有300-400根针，且悬臂背面有Al镀层
•ESP后面带W表示一个wafer，但悬臂背面无镀层（nocoating）
•只写了ESP，表示一盒10根针，但悬臂背面无镀层（nocoating)

9）Fastscan系列探针，专门用在DimensionFASTSCAN这个AFM机型上

10）FESP系列的探针
•FESP后面带A，表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层
•FESP后面带AW表示一个wafer，大概有300-400根针，且悬臂背面有Al镀层
•FESP后面带W表示一个wafer，但悬臂背面无镀层（nocoating）
•只写了FESP，表示一盒10根针，但悬臂背面无镀层（nocoating)

11）FIB系列的探针
•-A是一盒5根，且悬臂背面有Al镀层；否则就是一盒5根，但悬臂背面无镀层（nocoating）
•不同AFM机型对应的有不同型号的FIB探针，具体请在AFM探针筛选中查询

12）FMV系列探针
•-A表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层
•-AW表示一个wafer，大概有300-400根针，且悬臂背面有Al镀层
•-W表示一个wafer，但悬臂背面无镀层（nocoating)
•只写了FMV，表示一盒10根针，但悬臂背面无镀层（nocoating)
•-PT表示表示悬臂前面（含tip）有Ptlr镀层，导电

13）HAR系列探针
•-A-10表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层

14）HMX系列探针
•-10表示表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层
•-W表示一个wafer，且悬臂背面有Al镀层

15）LTESP系列探针
•-A表示一盒10根针，且悬臂背面有Al镀层
•-AW表示一个wafer，大概有300-400根针，且悬臂背面有Al镀层
•-W表示一个wafer，但悬臂背面无镀层（nocoating)
•只写了LTESP，表示一盒10根针，但悬臂背面无镀层（nocoating)

16）MESP系列探针，导电，悬臂前面（含tip）有MagneticCoCr导电涂层
•-HM表示高磁距highmoment
•-HR表示高分辨高磁矩（high-resolution,highmoment）
•-LM表示lowmoment

17）MLCT系列
•-bio和-bio-DC是为生物样品优化的探针，tip的形状和高度跟MLCT不一样，而且-bio-DC有热漂补偿，因此对于细胞培养和温度变化中测量的生物样品，可以考虑用这款探针。
•MLCT-FB的镀层比MLCT厚，其他方面和MLCT一样。
•-O表示没有tip。
•-UC表示没有镀层。tipradius是20nm

18）MSCT系列探针
•MSCT-MT-A只有一个悬臂，只能在innova上用。
•-UC表示没有镀层。MSCT相比MLCT系列，针尖半径（tipradius为10nm）更小。

19）MSNL系列，比MSCT和MLCT系列的针尖半径更小，只有2nm。

20）MLCT\MSCT\MSNL系列的探针，有镀层的都是reflectiongold。

21）NCHV系列，虽然参数和rtesp-300差不多，但其是性价比高的探针，只能做定性的分析，不能拿来做QNM。

22）NCLV系列探针也是性价比高的探针

23）NP系列探针
•-10UC表示一盒10根，且悬臂背面无镀层
•-W-UC表示一盒一个wafer，且悬臂背面无镀层
•NP后面跟“G”，表示悬臂前面和背面都有Gold镀层；NPG表示一盒一个wafer，大概300-400根NPG
•-10表示一盒10根
•-O10表示一盒10根，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有Gold镀层
•-OW表示一盒一个wafer，探针无针尖（tipless）且悬臂背面有Gold镀层
•NPV-10表示一盒10根，且悬臂背面有Gold镀层

24）OBL-10探针，是不能调角度的，悬臂的倾角是±3°，不能装在Dimensionafm上。

25）PEAKFORCE-HIRS系列探针，tipradius只有1nm,而且频率都是100KHz以上，可以做高分辨成像。

26）PFDT系列，专门用在有peakforcedeeptrench工作模式的Dimensionicon机型上测Holes/Trenches

27）PFQNE-AL探针，导电，是专门为peakforceKPFM模式优化的探针。由于部分参数需要保密，目前可展示的参数不全

28）PT系列是做STM模式用的探针

29）RESP系列探针
•RESP后面跟“A”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有10根
•RESP后面跟“AW”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有一个wafer，大概300-400根
•RESP后面跟“”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有10根
•-10表示共振频率是10KHz
•-20表示共振频率是20KHz
•-40表示工作频率是40KHz

30）RFESP系列探针
•RFESP后面跟“A”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有10根
•RFESP后面跟“AW”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有一个wafer，大概300-400根
•RFESP后面跟“”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有10根
•-190表示共振频率是190KHz
•-75表示共振频率是75KHz
•-40表示工作频率是40KHz

31）RMN系列探针，导电
•固体金属（SolidMetal）探针，有优良的导电性，并且不会出现金属涂层硅探针所产生的薄膜粘附问题。
•根据不同的应用对应有不同的型号可以选择

32）RTESP系列探针
•RTESP后面跟“A”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有10根
•RTESP后面跟“AW”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有一个wafer，大概300-400根
•RTESP后面跟“”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有10根
•-150表示共振频率是150KHz，-150-30属于预校准探针，表示共振频率是150KHz，且曲率半径是30nm
•-300表示共振频率是300KHz；-300-30属于预校准探针，表示共振频率是300KHz，且曲率半径是30nm
•-525表示工作频率是525KHz；-525-30属于预校准探针，表示共振频率是525KHz，且曲率半径是30nm

33）SAA-HPI系列探针，
•-30表示是预校准探针，曲率半径为30nm
•-SS表示超尖探针，曲率半径的标称值为1nm
预校准的探针有：
•SAA-HPI-30：0.25N/m,kcertified,controlledendradius,一盒5根
•RTESPA-150-30：5N/m,kcertified,controlledendradius,一盒5根
•RTESPA-300-30：40N/m,kcertified,controlledendradius,一盒5根
•RTESPA-525-30：200N/m,kcertified,controlledendradius,一盒5根

34）SCANASYST系列探针，
专门为SCANASYST（智能模式）优化的探针

35）SCM系列探针，导电，悬臂前面（含tip）有ConductivePtIr或ConductivePtSi镀层

36）SMIM系列探针，导电

37）SNL系列探针，
•-10表示一盒10根；
•-W表示一盒一个wafer，大概300-400根

38）SSRM-DIA探针，导电

39）TESP系列探针
•TESP后面跟后面跟“A”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有10根
•TESP后面跟“AW”，表示悬臂背面有Al镀层，且一盒有一个wafer，大概300-400根
•TESP后面跟“D”，表示DLC涂层硅探针，其表面硬化类的金刚石(DLC)涂层，目的是为了增加tip寿命，且一盒10根
•TESP后面跟“DW”，表示DLC涂层硅探针，其表面硬化类金刚石(DLC，Diamond-LikeCarbon)涂层，目的是为了增加tip寿命，且一盒一个wafer
•TESP后面跟“”，表示悬臂背面无镀层，且一盒有10根
•-HAR表示具有高纵横比(HAR)探针，是具有高/深几何形状的样品在进行tapping模式成像下的理想选择。
•-V2表示高质量、新设计的探针
•-SS表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为2nm，且一盒10根
•-SSW表示超尖针尖，针尖曲率半径标称值为2nm，且一盒一个wafer

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品牌：	布鲁克
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

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