Zeta电位纳米粒度仪DLS100_粒度/颗粒分析仪器_物性测定_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	贝拓科学
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

产品简介

纳米粒度与Zeta电位分析仪是集成纳米胶体溶液的颗粒粒度，及其Zeta电位的高性能光学检测装置。该装置测量纳米颗粒的粒度和Zeta电位的原理分别是：动态光散射（Dynamic Light Scattering，DLS）技术，与电泳光散射（ElectrophoreticLightScattering, ELS）技术。应用上述技术，可以实时、准确地检测胶体溶液中纳米颗粒的粒径及粒径分布，以及Zeta电位等参数，可广泛的应用于生物、医药、化工、食品、材料制备和污水处理等领域的基础研究、质量分析和质量控制等应用。

‍主要技术指标与性能

‍‍‍

DLS粒度检测

粒径范围

1nm~ 2μm

检测角度

90°

分析算法

累积法、非负最小二乘法（NNLS）、CONTIN

Zeta电位测试

检测角度

18°

Zeta范围

-500mV~+500mV

粒径范围

1nm~ 1μm

系统参数

温控范围

10°C~50°C +/-0.1°C，自动控制

冷凝控制

半导体制冷

标准激光光源

35mW，可调半导体激光器，波长635nm

相关器

硬件相关器，支持多τ、线性多种模式

检测器

PMT光子计数器

光强控制

0.0001%~100%，手动或者自动

符合标准

ISO13321，ISO22412，ISO13099-2

突出特点

（1）高速、准确的检测能力

（2）高性能自适应光子相关器，提高检测的实时性、准确性和重复性

（3）自适应光源强度调节，保证测量装置检测性能的稳定性和重复性

（4）高灵敏度和稳定度的光子计数级光电信号检测能力，

（5）可靠的光纤耦合装置，高效地增加DLS和ELS信号的信噪比，提高测量稳定性

（6）准确智能的频谱分析算法，提高ELS的测量精度

（7）高稳定性的光路与电路设计：消除杂散光和噪声信号的影响，结果稳定性和重复性高

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