美国PSSzeta电位及纳米粒度仪NicompZ3000

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   粒度分布：动态光散射仪（DynamicLightScattering,DLS）

   ZETA电位：多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）

   检测范围：

   粒径范围：0.3nm-10.0μm

   ZETA电位：+/-500mV

   Nicomp380Z3000系列纳米激光粒度仪是在原有的经典型号380ZLS&S基础上升级配套而来，采用动态光散射（DynamicLightScattering,DLS）原理检测分析颗粒的粒度分布，同机采用多普勒电泳光散射原理（DopplerElectrophoreticLightScattering,DELS）检测ZETA电位。粒径检测范围0.3nm–10μm，ZETA电位检测范围为+/-500mV。其配套粒度分析软件复合采用了高斯（Gaussian）单峰算法和拥有专利技术的Nicomp多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀分散体系的分析具有独特优势。ZETA电位模块使用双列直插式方形样品池和钯电极，一个电极可以使用成千上万次。另外，采用可变电场适应不同的样品检测需求。既保证检测精度，亦帮用户大大节省检测成本。

   技术优势

   1、PMT高灵敏度检测器；

   2、可搭配不同功率光源；

   3、双列直插式电极和样品池，可反复使用成千上万次；

   4、钯电极；

   5、精确度高，最接近样品真实值；

   6、复合型算法：高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换相位分析法（PALS)和频谱分析法（FALS）自由切换

   7、快速检测，可以追溯历史数据；

   8、结果数据以多种形式和格式呈现；

   9、符合USP,CP等个多药典要求；

   10、无需校准；

   11、复合型算法：

   （1）高斯（Gaussion）单峰算法与专利的Nicomp多峰算法自由切换

   12、模块化设计便于维护和升级；

   （1）可自动稀释模块专利（选配）；

   （2）搭配多角度检测器（选配）；

   （3）自动进样系统（选配）；