晶体出现率分析仪_粒度/颗粒分析仪器_物性测定_仪器设备_供应

产品详情

基本参数

品牌：	梓梦科技
所在地：	广东东莞市
起订：	≥1 PCS
供货总量：	未填
有效期至：	长期有效

详细说明

一．结构原理

ZMP9 60

晶体出现率分析仪

是

工作原理是通过专用高分辨率CCD

线性传感器和显微光学扫描平台，将颗粒图像信息采集下来并传输到计算机中，用专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行分析。结合智能的背景分离及超强的颗粒边界搜索算法

，将目标颗粒与背景分离，分析出各种测量参数，并通过显示器和打印机输出。

该仪器具有超大测量范围及高分辨率

，同时具有直观、可视、准确、操作简单、测量参数全面等特点。能够同时测量颗粒粒度、形状及表面颜色的新型颗粒分析仪器。

二. 产品介绍

ZMP960晶体出现率分析仪，可以直接对透明贴剂中析出的晶体进行扫描，按照规定扫描范围进行扫描一定的面积，将其中的晶体识别出来并做数量统计。软件可以内置公式得出晶体出现率。

三．性能指标

1.测量范围：1

μm～100mm

2图像分辨率：

900万像素

3.光学平台：10

0mm

120mm

4 背景光源：

反射光

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