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品牌：

 Rtec

所在地：

 广东 东莞市

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 ≥1 PCS

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 未填

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 长期有效
详细说明

 

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">         FT-100薄膜厚度测量仪

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">

薄膜厚度测量范围（ThicknessRange）:1nm-1.8mm

波长范围（WavelengthRange）:200nm-1700nm

精度（Precision）:<0.01nmor0.01%

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">

稳定性(Stability):<0.02nmor0.03%

光斑大小（SpotSize）:Dependsonobjective(4umto200um.2mm） 

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">功能：测量薄膜厚度、光学常数，反射率和透过率

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">单层膜或多层膜叠加层；适用于几乎inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;">所有透明，半透明，低吸收系数的薄膜测量，包括液态膜或空气层。

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">测试条件：平面或曲面

inkMacSystemFont,"SFProSC","SFProText","HelveticaNeue",Helvetica,"PingFangSC","SegoeUI",Roboto,"HiraginoSansGB",arial,"microsoftyaheiui","MicrosoftYaHei",SimSun,sans-serif;white-space:normal;">可配XY平台实现全样品膜厚mapping 


           

          可集成于以上测试平台（三维轮廓仪，微纳米压痕/划痕仪，摩擦磨损仪等）

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