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SGW X-4B
仪器描述

应用范围:测定物质的熔点。用于药物、化工、纺织、染料等晶体有机化合物之测定,显微镜观察。既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定。



【产品详情】

性能指标

熔点测量范围:室温至320℃

zei小读数:0.1℃

测量重复性:±1℃(在<200℃时)
          ±2℃(在200~300℃时)

配双目体视显微镜

光学放大倍数:40X-100X连续可调

SGW X-4B显微熔点仪,SGW X-4B

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注:该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案,不可用于临床诊断或治疗等相关用途

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