X射线荧光测厚韩国 镀层测厚仪iEDX-150WT 其他资料

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善时仪器-扫描电镜之工作原理及结构_1

应用领域:

iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量分析、金属电镀镀层分析、电镀膜厚分析等镀层领域

技术指标：

多镀层，1～5层

测试精度：0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间：10~30秒

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射线管50KV/1mA，钼、钨、铑靶

6个准直器及多个滤光片自动切换

XYZ三维移动平台，zei大荷载为5公斤

高清CCD摄像头，准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

高性能FP/MLSQ分析

仪器尺寸 620×612×525 mm

平台移动范围 110(X)x110(Y)x5mm

图谱界面：

软件支持无标样分析

超大分析平台

可自动连续多点分析

集成了镀层分析界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

分析报告结果

直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式

样品分析图谱：

测试结果界面：

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注：该产品未在中华人民共和国食品药品监督管理部门申请医疗器械注册和备案，不可用于临床诊断或治疗等相关用途