产品特点
详细介绍
时间分辨荧光共聚焦显微成像及光谱系统 MicroTime100 & FluoTime300将正置共聚焦荧光寿命显微镜和荧光寿命光谱仪结合在一起,能实现几百nm的空间分辨率和ps~ s的荧光寿命测试和光谱测试。能用于检测:荧光共聚焦成像、荧光寿命成像、时间分辨光谱、稳态激发/发射谱、时间分辨荧光共聚焦显微光谱、自由选取ROI的微区(时间分辨)荧光成像和(时间分辨)光谱,并且支持升级单分子光谱功能(闪烁,反聚束)、拓展了FLIM和红外部分,完全适用于诸多薄膜、纳米材料的研究,是研究时间分辨光致发光的理想工具。
产品特点:
• 在共聚焦成像基础上,可选点做微区PL、TRPL测试
• 半导体激光器波长从375到1060nm可选
• 可配置多个单光子探测器,用于反聚束检测
• 纳米级XYZ 扫描台
• 几百nm的空间分辨率,皮秒到秒级别的寿命测量范围
• 探测波长范围从350至1000nm可选,可扩展至1700nm
• 高配版光谱仪支持氙灯激发,低温和量子产率扩展
主要应用:
• 单分子光谱/探测
• 单线态氧研究
• 荧光上转换
• 荧光各向异性研究
• 稳态荧光光谱测量
• 量子产率测量
• 光化学研究
• LEDs,OLED,量子点检测
参数:
时间分辨荧光共聚焦显微镜部分: | |
激发模块 | ·带紧凑型光纤耦合单元的半导体激光器(功率/重复频率可调,最大80MHz) |
·波长范围 375-1060nm | |
·支持单通道或多通道驱动 | |
显微镜模块 | ·Olympus BX正置显微镜 |
·已包含透射照明部件 | |
·手动样品载物台 | |
物镜规格 | ·标准20X和40X物镜 |
·可选多种特殊物镜(水/油镜,红外/紫外强化,超长工作距离型等) | |
扫描方式 | · 三维XYZ压电物镜扫描,扫描范围为80µm x 80μm x 100µm,标称定位精度1 nm,以物镜扫描方式安装 |
·可选厘米级别大范围扫描台 | |
主要光学部件 | ·具有多达四个用于PMA和PMA Hybrid检测器的并行检测通道,两个用于SPAD检测器的检测通道 |
·预对准可更换型主二向色镜架 | |
·所有光学元件都可更换和调节 | |
探测器 | ·单光子雪崩二极管(SPAD) |
·混合型光电倍增管(Hybrid-PMT) | |
·光电倍增管(PMT) | |
数据采集方式 | ·基于时间相关单光子计数(TCSPC)的TTTR测量模式 |
·最多支持独立双通道同步采集 | |
交互软件 | ·SymPhoTime 64(用于FLIM和FCS) |
·EasyTau 2 (单点的寿命测量) | |
时间分辨荧光光谱部分: | |
光学结构 | ·L型 |
工作模式 | ·稳态、TCSPC和MCS |
灵敏度 | ·典型信噪比优于29000:1 (PMA 175探测器),激发和发射光路中使用双单色仪,基于水拉曼光谱,激发波长350nm,光谱带宽5nm,积分时间1s |
荧光寿命范围 | ·<40ps到10μs,采用PMT探测器和TCSPC模式的计数模块; |
·<10 ps到10 µs,采用Hybrid系列探测器、TCSPC模式的计数模块和合适的激光器; | |
·<10 ps到10 µs,采用MCP-PMT系列探测器、TCSPC模式的计数模块和合适的激光器; | |
·大于几百ms,采用任何探测器和MCS模式的计数模块。 | |
激发光源 | ·皮秒脉冲半导体激光器或者LED,波长范围260 - 1990nm,重复频率高达80MHz,普通激光器驱动单元; |
·高功率紫外激光器(VisUV, VisIR) | |
·亚微秒氙灯; | |
·300W CW同轴氙灯; | |
·外接激光器,如钛宝石激光器、脉冲DPSS激光器或超连续白光激光器; | |
单色仪 | ·Czerny-Turner结构, |
·聚焦长度:单单色仪聚焦长度为300mm,单出口或者双出口; | |
·1200g/mm光栅,闪耀波长为500nm; | |
·狭缝宽度在0 mm和10 mm之间可调(连续可调,完全机动化),色散2.7 nm/mm(单个300 mm焦长单色仪) | |
·杂散光抑制比典型值1:10-5(单单色仪),1:10-8(双单色仪)。 | |
探测器 | ·光电倍增管PMT系列,185~920nm可选; |
·微通道光电倍增管MCP-PMT系列,185~910nm可选; | |
·UV/VIS - NIR PMT覆盖波长范围200 ~ 1010 nm可选; | |
·近红外光电倍增管NIR-PMT系列,950~1700nm可选; | |
·混合式光电倍增管Hybrid-PMT系列,200~900nm可选。 | |
软件 | ·操作简单,功能全面,基于Windows系统的分析软件; |
·在工作区数据归档,数据导出功能和数据运算; | |
·几种典型测量方案的程序向导功能; | |
·全设备的数据采集和测量序列的脚本语言; | |
·荧光寿命光谱分析基于数卷积处理,高至四阶指数的衰减函数,含杂散光校正,寿命分布曲线,各向异性 | |
·测试,全局分析,严密错误分析等功能。 |
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