韩国 镀层测厚仪iEDX-150WTISP 可检测氮化铝陶瓷覆铜基板

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ISPX射线荧光测厚iEDX-150WT可用于测定氮化铝陶瓷覆铜基板，适用于氮化铝陶瓷覆铜基板项目。并且参考多项行业标准http://www.sense.cc/newsinfo/461186.html。可应用于多个行业领域。

    iEDX-150T镀层测厚仪在氮化铝陶瓷基板镀层领域的应用案例。随着国内外LED行业向高效率、高密度、大功率等方向发展，开发性能优越的散热材料已成为解决LED散热问题的当务之急。一般来说，LED发光效率和使用寿命会随结温的增加而下降，当结温达到125℃以上时，LED甚至会出现失效。为使LED结温保持在较低温度下，必须采用高热导率、低热阻的散热基板材料和合理的封装工艺，以降低LED总体的封装热阻。

应用领域:

iEDX-150WT镀层测厚仪应用于PCB镀层厚度测量分析、金属电镀镀层分析、电镀膜厚分析等镀层领域

技术指标：

多镀层，1～5层

测试精度：0.001 μm

元素分析范围从铝(Al)到铀(U)

测量时间：10~30秒

SDD探测器，能量分辨率为125±5eV

探测器Be窗0.5mil（12.7μm）

微焦X射线管50KV/1mA，钼、钨、铑靶

6个准直器及多个滤光片自动切换

XYZ三维移动平台，zei大荷载为5公斤

高清CCD摄像头，准确监控位置

多变量非线性去卷积曲线拟合

高性能FP/MLSQ分析

仪器尺寸 620×612×525 mm

平台移动范围 110(X)x110(Y)x5mm

图谱界面：

软件支持无标样分析

超大分析平台

可自动连续多点分析

集成了镀层分析界面和合金成分分析界面

采用多种光谱拟合分析处理技术

分析报告结果

直接打印分析报告
报告可转换为PDF，EXCEL格式

样品分析图谱：

测试结果界面：

韩国 镀层测厚仪iEDX-150WTISP 可检测氮化铝陶瓷覆铜基板,iEDX-150WT

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