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产品特点
循环系统压力采用压力传感器检测显示在触摸屏上
西门子PLC，模糊PID控制算法，具备串控制算法
导热介质出口温度控制模式
外接温度传感器：（PT100或4～20mA或通信给定）控制模式（串控制）
可编制10条程序，每条程序可编制45段步骤
以太网接口TCP/IP协议
设备内部温度反馈
设备导热介质出口温度、介质进口温度、制冷系统冷凝温度、环境温度、压缩机吸气温度、冷却水温度（水冷设备有）
详细介绍
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射流式高低温冲击测试机给芯片、模块、集成电路板、电子元器件等提供精确且快速的环境温度（-120℃ ~ +300℃）。是对产品电性能测试、失效分析、可靠性评估不可或缺的仪器设备。
广泛应用于半导体企业、航空航天、光通讯、高校、研究所等领域。
对比于传统的温箱，有以下几个特征:
（1）温度范围：-120℃ ~ +300℃；
（2）升降温速率非常快速，-55℃～150℃＜10秒；
（3）温控精度：±1℃；
（4）温度设置能力：±0.1℃；
（5）温度显示能力：±0.1℃；
（6）zui大气流量：25m3/h；
（7）实时监控被测IC真实温度, 实现闭环反馈，实时调整气体温度；
（8）升降温时间可控，可程序化操作、手动操作、远程控制。
经典应用场合：
（1）需要快速升/降温的应用场合
（2）针对PCB板上众多元器件中的某一单个IC(模块)，将其隔离出来单独进行高低温冲击，而不影响周边其它器件
（3）对测试机平台load board上的IC进行温度循环/ 冲击；传统温箱无法针对此类测试。
（4）对整块集成电路板提供精确且快速的环境温度。
型号 | AES-4535 AES-4535W | AES-6035 AES-6035W | AES-8035 AES-8035W | AES-A1035W | AES-A1235W | |
温度范围 | -45℃～225℃ | -60℃～225℃ | -80℃～225℃ | -100℃～225℃ | -120℃～225℃ | |
加热功率 | 3.5kw | 3.5kw | 3.5kw | 4.5kw | 4.5kw | |
制冷量 | AT -45℃ | 2.5kw | ||||
AT -60℃ | 2KW | |||||
AT -80℃ | 1.5KW | |||||
AT -100℃ | 1.2KW | |||||
AT -120℃ | 1.2KW | |||||
温控精度 | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | ±1℃ | |
温度转换时间 | -25℃ to 150℃ 约10S 150℃to -25℃ 约20s | -45℃ to 150℃ 约10S 150℃to -45℃ 约20s | -55℃ to 150℃ 约10S 150℃to -55℃ 约15s | -70℃ to 150℃ 约10S 150℃to -70℃ 约20s | -80℃ to 150℃ 约11S 150℃to -80℃ 约20s | |
空气要求 | 空气滤清器<5um 空气含油量:<0.1ppm
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粤公网安备44196802000105号
400-6226-992